XDRCに標準装備されている広範囲にわたるデザインル−ルセットにより、様々な技術要求に応え得る非常に複雑なチェック定義を設計者は容易に記述することが可能です。これはいわゆる設計者独自の「社内定義ル−ル」を既存の複雑なファウンダリスクリプトに追加して行くのに非常に便利です。例としてオプトエレクトロニクス産業の場合、XDRCには拡張されたオ−ルアングル機能とこの産業に特化したデザインル−ルを備えているため、ア−クやサ−クルが使用されているときに生じるfalseエラ−を簡単にフィルタリングできます。

ファウンダリメ−カ−などが0.5ミクロン以下のサイズのdensity（密度）仕様を要求し、不良箇所が見つかると全体が不合格にされてしまうなどと言うことは良くある話ですが、XDRCでは指定エリアもしくはデザイン全体に渡って密度が最適になるよう計算してくれますので、メ−カ−の要求に悩まされることもありません。

設計プロセスを確実にこなして行くには、全てのジオメトリ（又はオブジェクト）が特定のグリッド上にあることが、またはAcute（鋭角）な線分形を持たないことが必要となってきます。XDRCにはこれらのチェックをサポ−トしているル−ルが含まれており、簡単かつ確実にこなして行きます。

今日のディ−プサブミクロン（DSM）設計の分野ではゲ−トサイズのより一層の矮小化、そしてより多くのメタルをチップに配置することが求められています。XDRCではDSM設計の分野を強力にサポ−トするアンテナ・ル−ルでのデザインル−ルチェックを標準装備。XDRC非常に簡単な方法でアンテナ・ル−ル違反と問題となっているジオメトリを見分けて行きます。

XDRCでは様々なasymmetric（非対称）ル−ル検証をサポ−トしております。このasymmetricル−ルが必要となる例として、end-of-lineチェックがあります。また危険箇所の代表例として、ラインの終端に予め配置されているコンタクトやバイアスなどがあります。XDRCではこれらasymmetricル−ルでの検証を強力にサポ−トしております。

XDRCではタイトなスケジュ−ルで大規模なチップの検証を行わなくてはならない時などに、検証期間を大幅に短縮できるようデザインの指定エリアのみに対話型のエラ−チェックを行えるようになっております。

XDRCはdw-2000の強力なGPE機能によってあらゆるル−ルをスクリプト化することが可能です。これにより様々な最新のテクノロジ−ファイルにも対応できます。

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